便攜式氣體分析系統

產品介紹

GASEX PORTA - 便攜式氣體分析系統

獨立的氣體分析系統

便攜式和獨立的 FTIR 氣體分析系統，非常適合現場測量。 用于氣體分析的強大模塊，基于我們經過批準的堅固耐用的“火箭”FTIR，結合 5 米光程、小體積（0.2 升）多通道加熱池。

ARCoptix Gasex 模塊是尋求定制和可集成系統的系統集成商的理想產品。 Gasex 系統主要包含 4 個組件：

耐腐蝕氣室可加熱至 190 °C，即使在高濃度 H2O 或腐蝕性氣體中，也能確保樣品保持氣相（并避免冷凝）。 可以同時測量許多氣體，如 CO2、H2O、CO、NH3、NO、NO2、N2O、SO2、CH4、HF、HCl 和 VOC。 檢測限通常在 1ppm 左右，測量濃度的絕對精度在幾個百分點左右（還取決于校準質量和測量條件）。

• 優化的氣室和 FTIR 組件

• 銠耐化學鍍膜

• 分辨率為 2 cm-1（1 或 0.5 cm-1 按需）

• MCT 探測器具有高探測率 TE 冷卻 MCT 探測器 5000-830 cm-1 (2-12μm)

• 5m 小體積加熱氣室 (0.2L)

• 電池供電長達 8 小時的現場操作（加熱）

• 相對緊湊（與市場上的其他產品相比）

• USB 連接和 SDK 可用

• 具有成本效益

下面是使用 Gasex 系統在 0.5cm-1 處測量的光譜的一些示例：

系統的光學設計

耦合到白細胞的干涉儀

Gasex 系統由一個干涉儀模塊組成，該模塊還包括 MCT 探測器和一個 IR 光源以及一個多反射氣室。 光由黑體輻射模塊產生，并由雙角錐干涉儀調制。然后將光耦合到氣室（注入要分析的氣體），在那里來回反射 32 次。 最后，光線聚焦在 MCT 檢測器上。

干涉儀是如何工作的？

長久對準干涉儀

FT-Rocket 的核心是雙角立方（后向反射器）干涉儀。 兩個角立方體與一個共同的擺動臂連在一起，擺動臂旋轉以在干涉儀的兩個臂中產生光程差。

這種類型的設計被稱為長久對準干涉儀，系統的對準對振動和溫度漂移*。 它不必重新調整。

干涉儀的擺臂在無磨損撓性系統上旋轉，使該機械系統非常堅固耐用。

固態參考激光器

為了測量反射鏡的運動，將固態參考激光器耦合到干涉儀中。 與經典 HeNe 激光器相比，我們使用的固態激光器更緊湊，使用壽命更長。 它們具有非常低的溫度引起的波長漂移，當使用珀耳帖元件保持恒溫時，它們的波長可以穩定在幾個 PPM，從而提供非常準確和可重復的波長標度。 這對于確保日常和單元到單元的一致性至關重要。

Gasex Porta 規格

紅外光譜

氣體電池

系統

免費的圖形用戶界面基礎軟件

FTIR Rocket 隨附免費的 Windows XP、2000（32 位）和 Windows 7 和 8（32 和 64 位）兼容的圖形用戶界面 (GUI) 程序。

免費的基本軟件包允許用戶：

Ø配置硬件測量參數（放大器增益、平均...）。

Ø顯示實時光譜測量結果。

Ø設置參考光譜（白色、深色）并在原始光譜、透射或反射模式中進行選擇。

Ø常用功能，例如保存、打開、縮放、重新縮放...

Ø與傅立葉變換光譜相關的一些特定功能：在光譜或干涉圖平均、切趾、查看和保存干涉圖等中進行選擇。

免費 API 和示例

FTIR Rocket 還提供免費 API，允許您通過我們的 DLL 使用自定義代碼控制光譜儀。 基本示例適用于以下語言：

ØC#

ØLabview

ØMatlab

免費的數據庫搜索和分析軟件

與 Gasex Prota 產品一起，我們還提供了一個數據分析軟件，允許

Ø將測量與自定義或現有庫進行比較

Ø從一組選定的校準氣體光譜中創建化學計量模型。

Ø監測不同氣體濃度的演變。

配件

采樣系統

采樣系統可用于測量潮濕、腐蝕性氣流中的污染物濃度。 由于采樣泵、加熱過濾器和閥門位于加熱至 190 ºC 的模塊中，因此無需干燥即可測量樣氣。 氣體可以從采樣系統直接導入氣室進行分析。

氣體凈化

在某些應用中，氣體在進入帶有洗滌器系統的氣室之前需要進行清潔。 洗滌器可以由去除顆粒的過濾器或去除水或腐蝕性化合物的吸收器組成。 請聯系 Arcoptix 為您的應用找到合適的解決方案。

校準

校準過程高度依賴于應用程序。 Gasex 系統不是標準的*校準系統。 系統校準（即測量氣體的濃度）需要掌握化學計量學和信號評估以及對目標應用的深入了解。 氣體校準可以由最終用戶直接執行，或者（取決于危險性）可以由 Arcoptix 按需執行。